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JCM-7000是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能,相對于大型掃描電鏡,其自動化程度高,操作簡單便捷,維護保養(yǎng)容易,體積小巧,價格低廉,檢測速度快,從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能,更高效便捷的服務于您的研究和工作。
JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀,可進行非導電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station”,通過與SEM的馬達驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用,可以進行大范圍的觀察和分析,可實現(xiàn)分析結果和分析位置自動對應??蛇m用于日本電子多種型號電鏡。
JSM-7900F 超高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡品是JEOL,是推出的新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的*空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時,操作性能簡單化。 該設備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其性能。
JSM-IT200鎢燈絲掃描電鏡是一款操作便捷、使用方便,性價比高的全新數(shù)字化鎢燈絲掃描電子顯微鏡,可廣泛的應用于各個領域。
JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡是日本電子株式會社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡,這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。通過醉佳光闌角控制透鏡技術,JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現(xiàn)小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現(xiàn)100nm以內(nèi)的高空間分辨率分析。
JCM-7000臺式電鏡SEM自動化程度高,操作簡單便捷,維護保養(yǎng)容易,體積小巧,價格低廉,檢測速度快,從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能,更高效便捷的服務于您的研究和工作。
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